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分立器件 分立器件

分立器件

用心于半導電耐磨性測驗

IC芯片電性能參數測試

從何而來：admin 時期：2024-08-09 14:07 手機閱讀數：156
電子元件測式成為電子元件方案、種植、打包封裝、測式具體流程中的關鍵步湊，是選用某個分析儀器，在看待測元件DUT(Device Under Test)的檢則，區分缺陷報告、查驗元件能不遵循方案對方、隔離元件的好與壞的方式。中僅整流性能參數設置指標測式是測量電子元件電機械性能的關鍵技術一種，常見的測式辦法是FIMV（加瞬時交流電測線電阻值）及FVMI（加線電阻值測瞬時交流電），測式性能參數設置指標涉及開擊穿測式(Open/Short Test)、漏瞬時交流電測式（Leakage Test）及DC性能參數設置指標測式（DC Parameters Test）等。


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