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用心打造于半導體材料電特性考試

PL系列窄脈沖電流源測試原理及LIV測試框圖

由來:admin 日子:2020-10-09 09:52 瀏覽器量:2884

普賽斯PL 系類窄輸入脈沖直流電壓源可采用于 VCSEL 下列不屬于它是需要窄輸入脈沖激勵員工的試驗動畫場景。

PL 編機械設備有兩大入口:

① 、恒流電磁團隊激勵源,并能同時在測量待測元器的兩端電壓電流;

② 、電磁電流量自動精確測量入口,尤為使用于選擇外置PD 的的方式自動精確測量電磁光公率;

PL 題材生產設備能所在以上幾類弧形:弧形的降幅、伺服電機值、脈寬總數等均可程控。

① 、直流電壓恒流;

② 、直流電壓掃錨交流電;

③ 、脈沖激光直流電源瞬時電流;

④ 、脈沖信號掃面瞬時電流;

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適用普賽斯PL 國產產品窄單脈沖LIV公測平臺去公測框圖以下的:主要有 PL 國產產品的設備、專業連到線、公測板、信用卡信用卡集分球、待測繳光器、光考慮 PD 分為。 VCSEL 繳光器通常情況下效果光瓦數更大,而 PD 的考慮瓦數較小,還要適用信用卡信用卡集分器去光瓦數的衰減,互相信用卡信用卡集分球的反射強度因素使繳光器平臺對繳光器光入射角并就不是非常的過敏。

設施輸入有下例一些數據信息:LD+ 、 LD- 、 S+ 、 S- 、 PD+ 、 PD- ,中僅 LD+ 、 LD- 為恒流源輸入團隊激勵數據信息, S+ 、 S- 為待測電子元件額定電壓預估方法數據信息, PD+ 、 PD- 為外置 PD 預估方法數據信息。

為能保證移動信號輸入輸出品質,PL 國產設施設備必須 的安全使用普賽斯定做的比較特殊相連線,一同從考試板到待測集成電路芯片要盡可能減小連線,盡量簡單將集成電路芯片焊接方法于考試板上或的安全使用 socket 。

為維持待測電子元器電壓值測定的更準性,S+ 、 S- 是需要在待測電子元器引腳部短接至 LD+ 、 LD- ,請盡量將 S+ 、 S- 鏈接至待測電子元器引腳部,豈能之間在測試英文板上肆意短接。

 

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